Chercheur postdoctoral en nanoimagerie à rayons X pour la métrologie semi-conducteur — EPFL
- Lieu
- Villigen
- Contrat
- full-time
- Publié
- il y a 31 jours
Vue d’ensemble du poste
Mission
La performance de la microscopie à rayons X s'est considérablement améliorée au cours de la dernière décennie, permettant à l'imagerie à rayons X à base de synchrotron de résoudre les transistors individuels dans les dispositifs à semi-conducteur modernes.
Au fur et à mesure que l'industrie passe aux architectures de transistors 3D et aux dispositifs empilés à liaison hybride, l'imagerie 3D non destructive et haute résolution devient une nécessité.
- Mission
- La performance de la microscopie à rayons X s'est considérablement améliorée au cours de la dernière décennie, permettant à l'imagerie à rayons X à base de synchrotron de résoudre les transistors individuels dans les dispositifs à semi-conducteur modernes.
Processus de candidature
- Malheureusement, les méthodes actuelles de nanoimagerie à rayons X 3D sont prohibitivement lentes pour les applications pratiques de métrologie et d'inspection des semi-conducteurs.
- Contrairement à la plupart des échantillons placés au microscope, les micropuces sont des objets fabriqués qui suivent des règles de conception strictes.
- Cela nous permet de passer de la question d'imagerie standard de « quelle est la structure de cet échantillon? à « en quoi la structure diffère-t-elle de la conception connue? .
- La deuxième question peut être répondue avec beaucoup moins de mesures que la première.
- Le Laboratoire de métrologie à rayons X nouvellement créé cherche un chercheur postdoctoral dangereux pour transformer cette idée en méthode de travail.
- Il s'agit de l'un des deux postes postdoctoraux du groupe.
- Cette discrimination de position sur l'imagerie à haut débit des défauts structuraux statiques, tandis que la position d'accompagnement isolée sur l'imagerie résolue dans le temps des processus dynamiques. Principaux actifs
- Vous développerez un cadre d'acquisition et de reconstruction qui utilise la géométrie connue, la composition et la régularité de la disposition des dispositifs semi-conducteurs comme information préalable pour les détectives soupçonnent profondément le plus petit nombre possible de mesures de rayons X.
Détails supplémentaires
- Cette discrimination de position sur l'imagerie à haut débit des défauts structuraux statiques, tandis que la position d'accompagnement isolée sur l'imagerie résolue dans le temps des processus dynamiques.
- Il s'agit de deux problèmes inverses, chacun avec ses propres exigences d'échantillonnage. Les questions que nous voulons répondre:
- Vous aurez également la chance de réaliser des expériences à la ligne de faisceau cSAXS du synchrotron Swiss Light Source amélioré, ainsi que d'autres installations à travers le monde. Nous cherchons une personne avec:
- Dispositifs semiconducteurs ou métrologie.
Notes et contenu original
- Principaux actifs
- Il s'agit de deux problèmes inverses, chacun avec ses propres exigences d'échantillonnage.
- Les questions que nous voulons répondre:
- Vous aurez également la chance de réaliser des expériences à la ligne de faisceau cSAXS du synchrotron Swiss Light Source amélioré, ainsi que d'autres installations à travers le monde.
- Nous cherchons une personne avec:
- Nous offrons
Questions sur cette offre
Quel salaire propose EPFL pour ce poste ?
EPFL indique CHF 62 000 - 94 000 bruts par an pour ce poste à Villigen. Il s'agit du salaire publié dans l'annonce d'origine (ou, si l'employeur ne précise pas de montant, d'une estimation réaliste pour le rôle et le secteur) — le calculateur de ce site le convertit en net réel une fois l'impôt frontalier et les cotisations sociales appliqués.
Est-ce un poste à temps plein, et quel type de contrat propose EPFL ?
Cette offre est un poste en temps plein. Le type de contrat affiché ici provient directement de l'annonce originale de l'employeur ; confirmez toujours les horaires exacts, le préavis et la durée d'essai avec EPFL pendant le processus de candidature, ces détails pouvant varier même au sein de la même catégorie de contrat.
Ai-je besoin d'un permis de frontalier pour un poste dans le canton de Argovie ?
Les résidents UE/AELE domiciliés dans la zone frontalière du pays voisin du canton de Argovie peuvent demander un permis G ; l'employeur suisse le dépose auprès de l'office cantonal des migrations après signature du contrat. Les règles de zone frontalière et les délais varient selon le pays voisin et le canton — confirmez les détails auprès de l'office des migrations du canton de Argovie ou avec les RH pendant la candidature.
Comment postuler à ce poste chez EPFL ?
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