Postdoctoral Researcher in Data-driven X-ray Nanoimaging for Semiconductor Metrology 1EPFL · Villigen (AG)CHF 62k – 94k (Schätzung)VilligenVollzeitvor 33 Tagen
Postdoktorand im Bereich Data-Driven X-ray Nanoimaging für HalbleitermetrologieEPFL · Villigen (AG)CHF 62k – 94k (Schätzung)VilligenVollzeitvor 33 Tagen